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高速LED測試機

  • 料號:LED Tester
  • 高速LED測試機

商品詳細介紹Product Introduction

高速LED測試機

業界最快、最精準的LED測試機,每秒可測40顆,解析度10fA或100nV,並且搭配Probe Card每秒可測200顆以上

 

•採用NI PXI SMU模組,提供高速、穩定與精準的測量

•快速的測試速度,可達40顆/秒
•提供大範圍且精準的電流源
•最多可供應 20 W DC,高達 200 V 或  3A
•高達 10 A 的脈波產生範圍,脈波功率為 500 W
•10 fA 或 100 nV 解析度
•1.8 MS/s 取樣率與 100 kS/s 更新率
•SourceAdapt 技術可提供更快、更穩定的量測效能


 

 

  • 電性範圍:20W、200V、10A
  • 可量測電學、光學、熱學特性(選購):
  • 順向電壓(Vf)                   
  • 逆向電壓(Ir)
  • Thyristor現象
  • 逆向崩潰電壓(Vrs)
  • ESD(選購)
  • 光學特性量測
  • 亮度(Luminance)
  • 峰值波長(λp)
  • 主波長(λd)
  • 中心波長(λc)
  • 光譜半高波寬
  • 色度座標
  • 光強度

範圍大且靈活的供電能力

•最多可供應 20 W DC,高達 200 V 或  1A
•高達 3A 的脈波產生範圍,脈波功率為 500 W
•100 fA 或 100 nV 解析度


精準穩定的電性表現

用同一顆LED去量測IR(-20V)與VF2(20mA),點測100次,每次量測間隔500ms排除熱效應,PXI SMU(藍點)相對於BOX SMU(綠點)擁有非常穩定的表現。


內建1.8MS/s高速取樣率創造Thyristor量測的優勢

透過PXI SMU內建1.8MS/s的取樣率,可以相對傳統Thyristor量測省掉一張DAQ(資料擷取卡)的成本,並且創造更快速的量測速度。


SourceAdapt®可客製化響應設定

透過NI SourceAdapt®技術讓NI PXI SMU相較BOX SMU可以大幅縮短穩態等待時間。


模組化系統

透過模組化的設計,讓使用者面臨新的技術挑戰只需要抽換系統部分卡片即可讓提升整體效能,大幅省下整套設備重新購買的成本。


Probe Card探針卡測試

適用於Probe Card架構的測試系統,測試速度每秒可達220顆以上


~~歡迎與我們聯繫安排實機展示~~



 

商品注意事項Product Notes

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