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半導體輻射測試系統
半導體輻射效應測試系統(SEE、TID)
從 AI 運算中心到太空探索：確保關鍵晶片全域可靠度
順英提供半導體 SEE（Single Event Effects，單一事件效應）輻射測試系統整合與代測支援，協助 IC 設計、AI 運算、航太、衛星、車用電子與國防應用驗證晶片在質子、中子或其他輻射環境下的可靠度。服務範圍涵蓋測試架構規劃、FPGA 測試介面、測試板製作、控制程式開發、資料擷取、即時監控、BER 統計與輻射場域協調。
當高能粒子穿越半導體元件時，可能造成 bit flip、暫態錯誤、功能中斷或元件鎖死等單一事件效應。對於衛星、航太、車用電子、AI 運算中心與高可靠度工業系統而言，這些事件可能影響系統穩定性與任務安全。因此，在產品導入關鍵應用前，透過可重複、可紀錄、可分析的 SEE 測試流程驗證元件可靠度，是降低風險的重要步驟。
本服務適用於需要驗證輻射可靠度的半導體元件與電子系統，例如DRAM、SRAM、FPGA、MCU、SoC、AI晶片、通訊晶片、電源管理元件、航太電子模組、衛星載荷與車用電子控制單元。順英可依據元件規格與測試目的，規劃對應的測試介面、資料模式與監控條件。
高速資料擷取與錯誤統計
支援最高 200 MHz / 400 Mbps 數據傳輸率。預載多種 Data Pattern (Checkerboard, 00/FF, PRBS)。透過大量資料擷取與長時間測試紀錄，提高 BER 統計結果的可信度，協助滿足航太、車用與高可靠度應用的驗證需求
自動化數據比對與即時監控
全自動化寫入/回讀比對循環，即時計算 Bit Flip 數量。長時環境監控與自動存檔，確保測試數據完整性 。支援無中斷數據採集，精確捕捉瞬態錯誤。
高彈性客製化FPGA測試介面
展現高度的介面彈性。不論客戶晶片的存取協議為何，皆能透過自研板卡進行連接，在輻射場域執行測試
輻射場域整合與實績驗證
順英可依測試需求協助規劃國內外輻射測試場域，包含質子、中子及其他相關輻射測試資源
| 長庚質子中心 |
英國ISIS Chip IR實驗室 |
國家原子能科技研究院 |
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依專案需求，順英可提供測試系統架構、客製化測試板、FPGA 測試介面、控制與監控程式、資料擷取紀錄、bit flip / BER 統計、測試事件摘要、場域測試支援與後續改善建議。
需要規劃半導體 SEE 輻射測試或晶片可靠度驗證？
順英可協助您從測試架構、FPGA 介面、測試板製作、監控程式到輻射場域測試支援完整規劃。歡迎提供 DUT 規格、測試目標與預計場域，我們將協助評估可行方案。
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